分析rohs檢測儀的原理：
　　rohs檢測儀就是X射線熒光光譜儀，其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類，波長色散X射線熒光光譜儀（WDXRF）和能量色散X射線熒光光譜儀（EDXRF），波長色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測角儀、探測器等，而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測器和相關電子與控制部件，相對簡單。
　　rohs檢測儀波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：nλ=2dsinaθ（n=1,2,3…），式中，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角，利用上式可以計算相應被分析元素的波長，從而獲得待測元素的特征信息。
　　rohs檢測儀能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發(fā)出的特征射線能量：Q=kE，式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測器產(chǎn)生的相應電荷量；k為不同類型能量探測器的響應參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特征信息。
　　rohs檢測儀待測元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。
　　rohs檢測儀為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術(shù)，并對獲得的強度進行相關的譜分析和數(shù)據(jù)處理。